英飞思XRF镀层测厚仪优势

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，Zn/Fe等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn， Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe， 同时分析镍磷含量和镀层厚度

全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪，可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。

EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪-英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司位于苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前英飞思科学在分析仪器中享有良好的声誉。英飞思科学取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。英飞思科学全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。