半导体射频测试-德普福电子-半导体射频测试厂家
低频系统一般指其工作频率小于30MHz,半导体芯片射频测试,典型的工作频率有:125KHz、225KHz、13.56MHz等,这些频点应用的射频识别系统一般都有相应的标准予以支持。其基本特点是电子标签的成本较低、标签内保存的数据量较少、阅读距离较短(无源情况,典型阅读距离为10cm)电子标签外形多样(卡状、环状、钮扣状、笔状)、阅读天线方向性不强等。
在耦合方式(电感-电磁)、通信流程(FDX、HDX、SEQ)、从射频卡到阅读器的数据传输方法(负载调制、反向散射、高次谐波)以及频率范围等方面,半导体射频测试,不同的非接触传输方法有根本的区别,但所有的阅读器在功能原理上,以及由此决定的设计构造上都很相似,半导体射频测试厂家,所有阅读器均可简化为高频接口和控制单元两个基本模块。高频接口包含发送器等,其功能包括:产生高频发射功率以启动射频卡并提供能量;对发射信号进行调制,用于将数据传送给射频卡;接收并解调来自射频卡的高频信号。不同射频识别系统的高频接口设计具有一些差异。
射频同轴连接器的命名由主称代号和结构代号两部分组成,中间用短横线'-'隔开。主称代号射频连接器的主称代号采用国际上通用的主称代号,具体产品的不同结构形式的命名由详细规范作出具体规定,结构形式代表射频连接器的结构。阻抗:几乎所有的射频连接器和电缆被标准化为50Ω的阻抗。独有的例外普遍是75Ω系统通常用于有线电视安装。它也是重要的射频同轴电缆连接器具有相匹配的电缆的特性阻抗。如果不是这样,一个不连续性被引入和损失可能导致。
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