第二块光栅放置在塔尔博特长度的一小段距离（dT）处，用于分析干涉图样（图 11）。该技术可直接记录X 射线相移，从而获得样品折射率的测量值，并为小相位梯度或平滑相位梯度提供佳结果。

有两种方法可以区分信号的不同贡献：相位步进技术和利用莫埃纹的方法。

这两种方法都可用于获取平面图像和断层成像图像，并能产生复折射率的实分量和虚分量信息。

所述装置通常用于同步设施，因为它要求 X 射线束具有高度的空间相干性。不过，GI方法也可以在传统的X射线管中使用，使用第三个附加光栅，即 Talbot-Lau 干涉仪。

传统的多色 X 射线源可以通过相位步进配置有效地使用，因为在很宽的 X 射线能量范围内，源光栅后面产生的干涉条纹的位置与波长无关。

相反，摩尔纹配置允许使用适度的多色性，因为能量带宽过宽会降低摩尔纹的可见度，并恶化图像质量。

总旋转角度取决于系统的几何形状，使用平行光束时通常为180°，使用锥形光束时通常为360°。然后，从全部投影开始，重建三维断层切片（即在平行于光束传播方向的平面上的物体内部结构图像）。

X射线是由电子加速产生的——在大多数情况下，图1（a)是X射线管（发射锥形X射线能量光谱的实验室源）或同步储存环（产生高通量平行X射线且通常具有单一选定X射线能量的大型用户设施）。特征之间的对比对于检测至关重要。

因为每个投影记录的对比度取决于X射线与物质的相互作用和吸收，双能x射线骨密度，所以电子密度差异较大的材料通过衰减对比度来区分，而原子序数相似的材料则可以通过相位对比度更好地成像。

成像光束线由用于光束、聚焦/离焦、过滤和单色化的多个组件组成。硬X射线成像光束线的实验站一般距离光源较远，通常是根据研究的样品设计和配备的，以处理特定的实验，同时考虑到光子通量、能量范围、聚焦和X射线准直。SR光束的特点是高度的空间相干性；这就允许利用传输X射线波产生的相移（phase shift ）效应作为形成图像的进一步机制。

与X射线管相反，同步本身具有层状、邻行的几何形状，因此探测器上的物体放大率很低，散射对图像形成的影响可以忽略不计。单色X射线的使用使光束硬化假象变得可以忽略不计，是提取样品定量信息（如成分、密度、形态等）的基础。

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