低本底测量仪主要技术指标

主要技术指标

仪器对于90Sr-90Yβ源（活性区Φ20mm）的2π探测效率比≥50％时，二路低本底测量仪厂家， 本底≤0.15cm-2min-1；

仪器对于241Amα源（活性区Φ25mm）的2π探测效率比≥80％时， 本底≤0.005cm-2min-1；

α／β交叉性能：α进入β道的计数比＜3％（对241Am）， β进入α道的计数比＜0.5％（对于90Sr-90Y）；

长期稳定性

重复性：仪器连续通电8小时，多路低本底测量仪厂家，探测效率变化＜±10％；

本底稳定性：在8小时的测量时间内，本底计数变化应在(Nb±3σ)的范围内，其中Nb为本底计数的平均值，流气式低本底测量仪厂家，σ为本底计数的标准误差。

仪器灵敏度：α≥5×10-3Bq；β≥1×10-2Bq

耐压绝缘度＞1500V；

绝缘电阻≥2MΩ；

低本底

低本底是指再被测样品中，低本底测量仪厂家，除本实验感兴趣的核素以外的其他因素（包括样品的干扰核素）在辐射探测器中产生的信号。低本底测量是指在低本底条件下对样品进行测量，相应使用的仪器称为低本底探测器。

低本底探测器往往选用杂质少的材料或经过纯化的材料制作探测器及整个装置。除α探测器外，低本底探测器周围要适当增加物质屏蔽，以防止宇宙射线和周围环境中的射线引起的本底。常用的屏蔽材料为铅和钢。对探测器和测量系统的工作条件也要做适当的选择，以减少噪声和外界电磁场的干扰等因素引进的本底计数。

低本底技术指标

（1）探测器：φ75mm×75mm的NAL晶体

（2）总道数：512、1024、2048、4096道任选，实际应用道数：2048道

（3）能量分辨率：＜7.5%（137Cs）

（4）微分非线性：＜0.05%

（5）积分非线性：＜0.1%

（6）直流电源纹波:≤1mVrms

（7）高压电源纹波:≤20mV

（8）系统稳定性:≤1%

（9）数据通过率:>333kcps

（10）脉冲对分辨率：500ns

（11）分析误差:符合GB6566-2010《矿产地质分析测试实验室规范》（EJ/T751-93）的要求

（12）分析范围238U:（37～1×106）Bg226Ra:（37～1×106）Bg232Th:（12～4×105）Bg40K：0.1%～100%

（13）测量不确定度（样品活度＞37Bq）<10%

（14）使用条件温度：+5℃～+35℃湿度：≤90%电源：220V±10%50Hz

（15）铅屏蔽室尺寸及重量：680mm×105mm×235mm900kg37～1×106）Bg232Th:（12～4×105）Bg40K：0.1%～100%

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