XRF金属镀层测厚仪产品特点

>测试快速，无需样品制备

>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物

>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀

>SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率

>可切换准直器和滤光片

XRF金属镀层测厚仪应用场景

>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；

>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，Zn/Fe等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn， Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe， 同时分析镍磷含量和镀层厚度

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。



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