总旋转角度取决于系统的几何形状，使用平行光束时通常为180°，使用锥形光束时通常为360°。然后，从全部投影开始，重建三维断层切片（即在平行于光束传播方向的平面上的物体内部结构图像）。

X射线是由电子加速产生的——在大多数情况下，图1（a)是X射线管（发射锥形X射线能量光谱的实验室源）或同步储存环（产生高通量平行X射线且通常具有单一选定X射线能量的大型用户设施）。特征之间的对比对于检测至关重要。

因为每个投影记录的对比度取决于X射线与物质的相互作用和吸收，所以电子密度差异较大的材料通过衰减对比度来区分，而原子序数相似的材料则可以通过相位对比度更好地成像。

同步辐射（Synchrotron radiation，’SR）是由以相对论速度运动的电子改变运动方向而产生的。同步辐射涵盖了从红外线到硬X射线的大量电磁波谱。其主要特点是高强度（比传统X射线管高三到四个数量级）、高亮度和低发散发射。

SR是在大型设施中产生的，这些设施配备了不同的磁性结构（弯曲磁铁和插入装置），并根据不同的实验目的和用户要求进行了优化，以大限度地产生辐射（见图5）。SR从中提取，通过所谓的光束线（beamlines）传输到实验站。

与 ABI 相似，边缘照射（EI）方法也是基于检测光子穿过样品时的折射角。与 ABI 不同的是，EI 并不使用晶体，而是基于放置在样品后面和探测器前面的两套准直狭缝系统来检测折射效应。

图11 所示为同步使用的的技术，双能X射线，该装置由放置在样品前的个狭缝（称为样品前狭缝）和第二个狭缝（称为检测器狭缝）组成，前者用于准直光束，后者与检测器的一个像素行对齐。这两个狭缝具有相同的开口（约几十微米），但稍有错位。

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