马鞍山膜厚仪EDX8000TPlus-苏州英飞思(图)





应用编辑 语音1、激光测厚仪是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。



XRF金属镀层测厚仪产品特点

>测试快速,无需样品制备

>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,污染或破坏被测物

>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀

>SDD检测器,膜厚仪EDX8000TPlus,具有高计数范围和出色的能量分辨率

>可切换准直器和滤光片

XRF金属镀层测厚仪应用场景

>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析;

>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度





⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。



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