天一瑞合-集成电路三温测试设备报价-集成电路三温测试设备





确定冷热冲击试验箱温度恢复时间的方法;

1、按规定方位装置温度丈量传感器,将高温箱和低温箱的温度控制器别离调理到所要求的标称温度上。   2、别离使箱体升温文降温,自冷热冲击试验箱进入控温状况后安稳30 min或按产品技能条件要求安稳相应的时刻,记载丈量点的温度值。   3、将查验负载置入高温设备中,集成电路测试设备,按产品技能条件要求或有关规范的规则挑选相应的坚持时刻。   4、挑选冷热冲击试验箱变换时刻,然后将查验负载由高温设备转入低温设备,留意调查和记载丈量点的温度;再按相同的办法进行查验负载由低温设备向高温设备的相反变换,留意调查和记载丈量点的温度。   5、别离记载查验负载从高温(或低温)设备变换到低温(或高温)设备后至设备丈量点温度康复到查验负载放人之前的温度状况所需要的短时刻。






冷热冲击箱控制系统使用智能化控制软件系统,具备自动组合制冷、加热等子系统的工况,从而保证在整个温度范围内的高l精度控制,集成电路三温测试设备报价,同时达到节能、降耗的目的,完善的检测装置能自动进行详细的故障显示、报警,集成电路三温测试设备,如当箱发生异常时,控制器用中文汉字显示故障状态、同时具备历史数据表趋势图及历史故障记录的储存功能。制造商提供两年内控制软件系统免费升级的服务。可选配R485计算机通讯接口及计算机上、下机计算机机辅助控制系统装置,实现连机数据传输及远程控制功能。也可选配记录仪进行实验数据记录。



  


温度变化试验分为三类: 1、规定转换时间的快速温度变化试验,转换时间分为:2~3min,20~30s,<10s 。 2、规定温度变化速率的温度变化试验,试验箱的温度升降变化速率(不超过5min内的平均值)应为1± 0.2℃ /min, 3± 0.6℃ /min,集成电路三温测试设备生产厂家, 5± 1℃ /min 。 3、两液槽温度快速变化试验,产生一种急剧的热冲击,适用于玻璃-金属密封及类似的试验样品.低温槽装有标准规定的低温液体,若没有规定则液体温度应为0℃,高温槽装有标准规定的高温液体,若没有规定,则液体温度应为100℃。



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