芯片缺陷检测依靠CCD成像摄像机及检测系统，其中检测系统尤为重要。测试系统是基于用户对产品的检测需求，系统开发工程师根据客户的要求再进行指导性开发。计算机芯片缺陷检测主要包括5个部分：1.灯光控制 2.镜头 3.相机 4.图像采集卡 5.视觉处理器。CCD是一种将光学图象转换成数字信号的半导体器件。与CCD视觉相比，较为流行的理解就是配备了CCD芯片的摄像机，这种摄像机应用于工业生产和设备组成一套具有检测功能的设备，称为芯片缺陷检测。彤光电子公司专门从事芯片缺陷检测的销售，有需要的朋友可以来问价格，我们给出的芯片缺陷检测的价格非常合理，服务质量可以得到很好的保证。

人工检测是产品表面缺陷的传统检测方法，该方法抽检率低、准确性不高、实时性差、效率低、劳动强度大、受人工经验和主观因素的影响大，而基于机器视觉的检测方法可以很大程度上克服上述弊端。机械视觉检测系统采用合适的光源和图像传感器(CCD摄像机)获得产品的表面图像，用相应的图像处理算法提取图像的特征信息，再根据特征信息对缺陷进行定位、识别、分级等判别与统计、存储、查询等操作

芯片缺陷检测是人工智能化迅速发展的一个支系。芯片缺陷检测是一种根据图象自动检测和研究的进步，通常用以电子显示屏领域，运用于自动检测，过程控制和智能机器人具体指导。芯片缺陷检测领域包含从业机器视觉构件和系统制造商，系统集成商，地区代理，从业机器视觉和图片有关技术性的咨询管理公司，科学研究组织，学术团体和应用机器视觉商品的各个领域。芯片缺陷检测用设备替代人的眼睛，其作用范畴不但包含信息的接纳，还拓宽到信息的处置和分辨。与人工视觉效果对比，芯片缺陷检测具备很多优势。彤光电子公司拥有研发实力和稳定的产品，专门从事芯片缺陷检测的研发和销售，有需要芯片缺陷检测的朋友可以随时打电话咨询。