苏州英飞思科学-XRF镀层测厚仪供应-阳泉XRF镀层测厚仪
英飞思XRF镀层测厚仪优势
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。
测厚仪
材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,XRF镀层测厚仪供应,因此,XRF镀层测厚仪报价,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,阳泉XRF镀层测厚仪,快速,无损,XRF镀层测厚仪厂家,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
苏州英飞思科学-XRF镀层测厚仪供应-阳泉XRF镀层测厚仪由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”选择苏州英飞思科学仪器有限公司,公司位于:苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室,多年来,英飞思科学坚持为客户提供好的服务,联系人:张经理。欢迎广大新老客户来电,来函,亲临指导,洽谈业务。英飞思科学期待成为您的长期合作伙伴!