集成电路三温测试设备公司-天一瑞合仪器设备公司





产品用途:冷热冲击试验机该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,集成电路三温测试设备公司,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备,考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品,在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能,使用的适应性,适用于学校,工厂,军l工,研位,等单位。






 设备名称

 立式热流仪 (超快速冷热冲击机)

 设备型号

 TYST-400-10

 性能指标

 温度范围

 。-65℃~200℃

 温度控制精度

 ±1.0℃(经校正之后的设备)

 温度解析精度

 0.1℃

 温度波动度

 ≤±0.5℃

 出气流量

 5~18  (2.35L/s~8.49L/s)

 特征温度变化速度

 -55℃~+125℃,约10S

 (出气口空载 )

 +125℃~-55℃,约15S

 温度控制方式

 T型、K型温度传感器,定做集成电路三温测试设备,定值监控、程式监控

 功能指标

 操作界面

 10寸触摸屏, 良好的人机交互界面

 通讯方式

 网口、RS485,可远程控制(提供协议和程序)

 数据存储

 U盘存储

 安装指标

 尺寸

 590mm*1045mm*872mm(W*H*D)

 测试罩移动性

 自研支架固定,可升降,可左右移动

 电源

 AC220V 50HZ 单相






 设备名称

 立式热流仪 (超低温超快速冷热冲击机)

 设备型号

 TYST-400-10S

 性能指标

 温度范围

 -80℃~200℃

 温度控制精度

 ±1.0℃(经校正之后的设备)

 温度解析精度

 0.1℃

 温度波动度

 ≤±0.5℃

 出气流量

 5~18 (2.35L/s~8.49L/s)

 特征温度变化速度

 -55℃~+125℃,约10S

 (出气口空载 )

 +125℃~-55℃,约15S

 温度控制方式

 T型、K型温度传感器,集成电路三温测试设备供应商,定值监控、程式监控

 功能指标

 操作界面

 10寸触摸屏,集成电路三温测试设备, 良好的人机交互界面

 通讯方式

 网口、RS485,可远程控制(提供协议和程序)

 数据存储

 U盘存储

 安装指标

 尺寸

 590mm*1045mm*872mm(W*H*D)

 测试罩移动性

 自研支架固定,可升降,可左右移动

 电源

 AC220V 50HZ 单相






  



冷热冲击试验机

辅助结构密封:门与箱体之间采用双层耐高温高张性密封条以确保测试区的密闭门把手:采用无反作用门把手,操作更简便样品架移动方式:样品架依靠安装箱体底部的直线往复驱动系统作上下移动脚轮:机器底部采用可固定式PU活动轮采用立式体、冷热两箱,采用提篮转换试品所在实验区域的方法,达到冷热冲击试验目的;这种结构较大限度减小了冷热冲击时的热负荷,缩短了温度回复时间,也是很可靠、很节能的一种冷热冲击的方式。




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