光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求

直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。

如R表示强度比即        

R=I1/I0

I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。

在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。

光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。

现在一般采用计时曝光法较为普遍。

硫是有害的杂质，在钢中要严格限制其含量。硫作为常规分析非金属元素，其激发产生的特征波长较长，能量较低，受光路的影响较大，所以它是光谱仪分析元素中较为敏感的元素。在日常分析中，仪器的飘移，如电源异常、设备震动、光电倍增管的老化等所造成的影响对硫来说，激发强度一般都是向低端偏离，容易出现数据的不准确性。

铝及铝合金加工产品是有色金属工业中的轻金属产品，是其他行业的重要原材料。之前铝及铝合金中化学成分的测定常用滴定法、分光光度法与原子吸收光谱法等，但是这些方法样品前处理过程繁琐。近年来，随着国产直读光谱仪的飞速发展，手持光谱仪价格，在金属成分分析应用中运用的越来越广泛。但是，对于非常薄铝箔进行分析时存在一定的困难：分析样品在预燃激发时非常容易被击穿，在层叠预燃时又困于将其中滞留的空气赶跑，导致激发失败。因此利用直读光谱仪对铝箔样品进行分析，样品的制备是关键技术之一。

在直读光谱仪上进行分析的样品均要求为块状固体。制备块状铝箔样品，途径一是将样品高温加热至熔融，然后冷却使其凝结成块状；其二是通过机械外力作用把铝箔压制成结实的块状。前者对于分析一些易挥发性元素（As， Sn等）不利；此外，如果铝箔样品表面经过钝化等工艺处理，难于融结。本文用第二种方法制备样品，并以激发时收集到的基体元素Al的光强来比较各种制样方法的差异。

结果表明，由机械压样机破碎样压制制备的铝箔样品可胜任在直读光谱仪上进行快速分析，测定的结果与化学方法相一致，适合于日常检验样品量繁重的工厂、实验室、品质检验部门之样品的制备及检测。

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