天一瑞合仪器设备公司-集成电路三温测试设备
冷热冲击试验箱工作原理
三箱式
内置预冷区、预热区、试验区三个部分,集成电路三温测试设备,三个区分别独立,集成电路三温测试设备厂家,三个箱体间通过风门切换不需移动试验产品,冲击常温时,通过鼓风机,把环境温度导入试验空间,排除试验空间热量或冷量,同时高低温槽风门关闭;冲击低温时,高温和常温槽风门关闭,低温槽与试验箱相通,瞬间把预存冷量导入试验箱;冲击高温时,低温和常温槽风门关闭,高温槽与试验箱相通,瞬间把预存热量导入试验箱。从而达到温度快速交变的目的。
冷热冲击试验机高低温区温度范围:【高温区部分:+80℃至+200℃; 低温区部分:-10℃至-55℃】 温度测试范围:【高 温:+60℃至+150℃;低 温:0℃至-40℃】 控制精度:【+(-)2℃】解析精度:【0.01℃】 高温区升温时间:【自常温至150℃,约60分钟】 低温区降温时间:【自常温至 -40℃,约80分钟】 测试区温度恢复时间:【3-5分钟】
产品说明:冷热冲击试验机区分为高温区、低温区、测试区三部分, 各区之箱体釆之断热结构。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区,集成电路三温测试设备报价,做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时,很大时间可达9999分钟,较大循环周期可达9999次。系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统,降温效果快速,冷却方式为风冷式或水冷式两种。可连接电脑,记录仪仅为选购件。采用彩色中英文LCD触控式图控操作介面,操作简易。
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