材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。

主要包括：日常家电，如电冰箱，洗衣机，微波炉，EDX-8000 RoHS检测仪，空调，吸尘器，热水器等；和家电，如音频、视频产品，DVD，CD，机，IT产品，数码产品，通信产品等；电动工具，电动电子玩具电气设备，使用的电力，包括小型和大型家电，IT和电信设备和消费品，如收音机，电视机，摄像机和音响系统。指令处置阻止成千上万吨违禁物质可能释放到环境中，并在电气和电子产品的设计带来了重要的变化，增加生产者的产品的成分和毒性的认识。




光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成的。




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