种多通道高精密LCR测试系统  本发明涉及LCR测试技术领域，测试治具，公开了一种多通道高精密LCR测试系统，测试治具厂商，包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡，测试治具好不好，若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接，所述扫描卡用于实现通道切换，测试治具价格，所述测量卡用于实现LCR测试，所述背部连接板用于实现信号的转接，所述背部连接板连接有主控板，所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制。




目前世界出货量的型号吸收了的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。特性1：OTS-近的位置对正系统（光学目标对准） 　OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密的度量技术。OTS实现了以自己为参照的光学对准系统。




适用领域：12寸Wafer、IC测试之产品LCD半自动探针台机械手臂取放片电动、键入坐标寻位置量测尺寸（mm）：1800x1600、1300x1200、1200x1000LCD手动探针台白炽灯或者LED整面背光TFT元件特性、Driver IC量测分析机台尺寸（mm）：800x600、500x400、300x300PCB量测探针台（TDR）高频测试探头GSG / GS / SG频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ机台尺寸同LCD 探针台太阳能产业探针台（Solar Cell 量测系统）




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