武汉无损检测试块-东瑞精密模具(在线咨询)






超声检测试块是一种用来调试的超声检测器。


超声波特点:

1.在空气中不能传播,遇到空气100%反射。

2.超声波在行经介质时,若遇到不同密度或弹性系数物质时,即会产生反射回波的特性,而此种反射回波强度会因材料密度不同而有所差异。

超声波检测原理:

C-SAM检测(超声波检测)即利用此特性来检出材料内部的缺陷并依所接收之讯号变化将之成像。

因此,无损检测试块,只要被检测的IC上表面或内部晶片构装材料的界面有离层、空洞、裂缝等缺陷时,即可由C-SAM影像得知缺陷相对位置。






CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:

1:利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;

2:利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;

3:利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;

4:利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;

5:利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;

6:利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;

7:利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。






一、试块的尺寸规范

1.不同类型的试块应按照相关标准和规范确定其尺寸。

2.在制作试块时,应严格按照允许误差范围内的标准尺寸进行切割和加工。

3.试块的尺寸应符合质检要求,不应有明显的尺寸偏差和不合格的尺寸现

象。

二、试块的材料规范

1.试块的材料应符合相关产品标准,并通过质检部门]的检验合格。

2.不同类型的试块可能需要使用不同材料,应根据具体要求选用相应的标准

材料。

3.在试块的制作过程中,材料应保持干燥、清洁,杜l绝杂质和水分的污染。






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