浙江EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-英飞思科学
全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。
测厚仪
材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,EDX-8000B型XRF镀层测厚仪,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
应用编辑 语音1、激光测厚仪是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。
浙江EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。行路致远,砥砺前行。苏州英飞思科学仪器有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴,更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业,与您一起飞跃,共同成功!