x射线发生装置检测样品时有哪些要求？

1、送样者在测试X射线衍射之前，请务必事先了解晶体学的基础知识和X射线衍射的基本原理。为什么要用X射线衍射仪以及测试项目（晶型、晶粒尺寸、结晶度、取向度、物相分析等）；

2、送样前，请用简单易记的英文字母（如：A，B，C…）和数字（如：1，2，3…）对样品进行编号等.

3、粉末样品：须充分研磨，需0.2克左右；

4、 片状样品：需有一个大于5?5mm（佳为15?15mm）平整的测试面；

5、块状样品：需有一个大于5?5mm（佳为15?15mm）平整的测试面，如不平整，可用砂纸轻轻磨平，无厚度要求；

6、纤维样品：

a、取向度测试：样品须疏理整齐，中能x射线发生装置，少需长约30mm，直径约3mm一束纤维（大约圆珠笔芯大小的一束丝）；

b、常规测试、结晶度、晶粒尺寸：样品须充分剪碎，呈细粉末状，需0.2克左右(大约一分钱的体积)；

7、 液体样品不能测试；

x射线发生装置-涂层应用

现代生活的每个环节都得益于涂层或薄膜技术。无论是集成电路芯片上的阻挡层薄膜还是铝制饮料罐上的涂层，X射线是研发，产品过程控制和不可缺少的分析技术。作为纳米技术研究，X射线衍射(XRD)和附属技术被用于确定薄膜分子结构的性质。理学的技术和经验为涂层和薄膜测量提供各种无损分析解决方案。

x射线发生装置角度校准的光学新方法

目前x射线发生装置的角度检定和校准测试主要依据JJG 629—1989《多晶X射线衍射仪检定规程》和JB/T 9400—2010《X射线衍射仪技术条件》等技术文件，具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试，中能x射线发生装置厂家，该测量方法实际应用中存在一定难度，中能x射线发生装置哪家好，其次测量间隔较大，不能很好反映真实的角度误差规律.为此，提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点，组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器，设计了一种新的XRD的角度校准方法，它能够自动快速地连续测量角度，取k=2时，扩展不确定度约1.2″.使用该方法测试能够得到θ和2θ轴的误差数据，可用于修正XRD测角误差，提高XRD测试精度.该方法也适用于同步辐射等大型衍射系统等其他需要角度校准的情况.

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