膜厚仪EDX-8000T 型XRF镀层测厚仪/电镀液分析仪

Simply The Best

>垂直光路设计，专为镀层厚度分析而设计

>高分辨率硅针检测器 (Si-pin) ，适合于多元素镀层的高灵敏度分析，比起传统的封气正比计数器，Si-pin探测器具有更佳分辨率、更低的背景噪声（高 S/N 比）长期稳定性以及更长的使用寿命

>工业级高清样品观测系统，点位测量功能有助于提高测量精度

>易于使用，新型用户界面专为非XRF用户设计。直观而整洁，只需点击鼠标即可进行正确的分析