混合信号示波器在许多复杂测试中的应用， 背景分析当代电子电路设计中，特别是嵌入式电路设计，lcr电桥测试，面临很多新技术的挑战，如：更多的总线应用，更高速的时钟和数字信号，集成度更高的PCB设计，很多设计中还融入了RF功能。面对这样的设计工作，工程师需要相应的测试手段和工具，lcr电桥测试仪供应，来完成比以往更加复杂的测试任务。为了解系统的整体工作特性，工程师只有同时测量模拟、数字信号，甚至包括总线信号，才能了解系统故障的原因和掌握信号和指令的时序和逻辑关系。




深入探究在许多复杂的测试方案中，示波器并不能为其提供足够的通道数量。工程师要么在实验室中多找几台示波器，要么使用逻辑分析仪。但不管是哪种情况，lcr电桥测试仪定制，复杂性都会明显提高。例如数字设计中经常遇到的建立保持违规问题。传统电路中的时钟速度较低，对信号建立保持性能的余量较大。但随着系统主频的不断增加，PCB设计的日益复杂，建立保持违规问题越来越常见。检测该问题需要设定一个通道为时钟信号，另一个通道为数据信号，并设定相应的时间范围。但需要同时测量多路信号的建立保持问题时，传统的示波器显然无法满足，需要带有数字逻辑通道的示波器才能完成此类工作。




一般而言，测量混频器的幅度，相位和群时延响应特性要求网络分析仪外接本振。然而，在系统中，本振可能内置在被测的变频器件中，网络分析仪无法连接。此外，之前的测量方法也假定参考混频器必须采用和被测混频器相同的本振来驱动；如果网络分析仪内置本振的话就不用了。利用内置的本振源，安捷伦公司PNA微波网络分析仪新增的内嵌本振测量功能可以让用户准确地测量被测混频器的相对相位和群时延响应，而不用外接参考本振信号。简单的两步校准让用户把更多的时间花在测量器件上。测试条件得到优化可以程度地测量元器件，同时不降低测量质量。






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