ICP-MS简述

20世纪60年代末期，ICP-MS质谱仪厂家，采用电感耦合等离子体源的原子光谱技术成为当时应用于微量元素分析的一项非常有前

途的技术（Greenfield等，1964； Wendt与Fassel， 1965）。但在分析超低含量物质时由于背景光谱增强，光谱干扰

严重使分析灵敏度和准确度达不到要求。只有质谱法能同时满足谱图简单、分辨率适中和较低检出限的要求。因此， ICP-AES所具有的样品易于引入、分析速度快、多元素同时分析的特点与质谱仪的联用成为科学和商业上研究的

热点。1970年许多公司深入的参与了该技术的研究，CP作为发射源使等离子体中分析物有效电离能够满足新一代

仪器源的要求。同时也注意到惰性气体在大气压下的电等离子体可能是一个很好的离子源。因此人们采用四极杆 质量分析器和通道式离子检测器开展可行性研究。Gral在70年代中期首先报道了用等离子体作为离子源的质谱分 析法。1981年Gray在Surrey实验室设计完成了 ICP源上所预期性能的设备，获得了张ICP谱图。1983年英 国VG公司与加拿***ciex公司推出商业化的ICP-MS，1984年在用户实验室才安装ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化学分析中广泛应用开来。

这些干扰要有效识别和消除 ICP-MS 质谱仪中的干扰，可以采取以下一些方法

干扰校正方程：通过建立干扰校正方程，利用已知的干扰元素和目标元素的关系，对干扰进行校正。

内标法：使用内标元素来监测和校正信号的变化，以补偿基体效应和其他干扰。

碰撞/反应池技术：利用碰撞/反应池来去除或降低多原子离子、分子离子等干扰。

选择合适的质量数：避免选择受到严重干扰的质量数，或者采用高分辨率质谱仪来区分干扰和目标离子。

优化仪器参数：调整射频功率、离子源气体流量等参数，以减少干扰的影响。

样品前处理：适当的样品前处理方法可以去除干扰物质，如稀释、萃取、净化等。

同位素比值测量：通过测量同位素比值，可以消除一些干扰的影响，并提供的分析结果。

质量筛选：利用质量筛选技术，只监测特定质量数范围内的离子，减少干扰的干扰。

数据处理方法：采用合适的数据处理软件和算法，如背景扣除、平滑、校正等，来校正干扰。

标准加入法：通过添加已知浓度的标准物质到样品中，校正基体效应和干扰。

识别和消除干扰需要综合考虑多种方法，并根据具体的分析需求和样品特点选择合适的策略。同时，定期进行质量控制和方法验证也是确保干扰得到有效校正的重要步骤。

钢研纳克检测技术股份有限公司（代码:300797）是企业中国钢研科技集团有限公司（钢铁研究总院）的二级单位，从事分析仪器装备和分析检测技术的研究、开发和应用的高新技术型企业。目前公司提供的主要服务或产品包括分析检测仪器、第三方检测服务、标准物质/标准样品、能力验证服务等检测相关产品与延伸服务。

钢研纳克不仅是中国分析仪器设备制造的行业，也是国内元素检测领域仪器种类齐全、综合实力的仪器装备和分析测试技术的研究机构之一。公司及子公司牵头制修订7项、参与制修订20余项、制定170余项国家及行业标准；研制家级标准物质/标准样品300多种。力争成为测试仪器装备领域有影响力的国际竞争参与者、成为具有国际影响力的材料表征评价认证的机构和综合解决方案的提供者。

钢研纳仪器产品主要包含：直读光谱仪、碳硫分析仪、氧氮氢分析仪、ICP光谱仪、ICP-MS、食品重金属检测仪、土壤重金属检测仪、波长色散X射线荧光光谱仪、金属原位分析仪、脉冲熔融-飞行时间质谱仪、试验机、环保监测设备等技术水平的检测装备，其中多款仪器填补国内外空白（属国内首台套）。产品质量稳定，检测数据可靠，累计市场占有率排名国内，部分产品成为同类产品的业界，牵头制定了相关仪器和检测标准。

依托国家钢铁材料测试中心，钢研纳克检测技术股份有限公司（原钢铁研究总院分析测试研究所）是早使用和开发ICP-MS分析技术的科研单位之一，培育了一批ICP-MS应用分析和仪器技术的，自1999年起负责或参与起草制定了ICP-MS分析应用和仪器测评相关的、和行业标准多项。已经发布1项ISO 16918-1:2009“Steel and iron --

 

ICP-MS质谱仪厂家由钢研纳克江苏检测技术研究院有限公司提供。ICP-MS质谱仪厂家是钢研纳克江苏检测技术研究院有限公司今年新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：李经理。