济宁EDX8000T Plus镀层测厚仪-英飞思科学仪器公司







膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Cr/Fe, Ni/Fe,EDX8000T Plus镀层测厚仪, Ag/Cu,Zn/Fe等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度







使用注意事项编辑 语音测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。测量注意事项:⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。




苏州英飞思科学仪器有限公司,英文名字:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.

公司logo和英文缩写为ESI。

英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。



XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。



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