上海EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪-英飞思科学仪器





测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。苏州英飞思科学仪器有限公司





膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn,EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪, Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度







用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度,以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同,常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的,但在同一介质中声速是一常数。



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