鸡西CS995型红外碳硫分析仪-英飞思科学(图)





电子电气产品中有害物质检测RoHS2.0样品拆分通用要求

General Disassembly Requirements for Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products

在电子电气产品有害物质的检测中 ,样品拆分过程对于检测结果具有直接的影响。本标准参考欧盟关于均质材料的定义对样品进行拆分,将样品拆分成终提交检测的单元,然后再进行检测。对于用机械手段难以拆分的非均质材料,按照一定的条件,如质量、体积等符合本标准规定的,可以直接提交检测,不需进一步拆分。本标准用举例和图示的方法对拆分的原则进行说明






相邻元素的Kα谱线完全分开, 结构上没有分光系统, Si-PIN半导体传感器安装位置邻近样品, 检测灵敏度高, 所以XRF光谱ROHS分析仪Compassionately00成为了RoHS重金属检测的仪器。

由于Ro HS检测涉及成千上万种产品, 基体材料种类繁杂, 有单一材质, 也有金属合金、复合镀层、陶瓷玻璃以及PE、PVC、ABS等塑料类, 目前国内外在检测方法方面没有形成一致性的结论, 因此可以采用一种或几种分析仪器对其中的有害物质进行测试。其中能量色散X射线荧光光谱仪可直接使用固体标准物质进行校准。






射线管发射具有高能量的粒子束照射样品, 当其能量大于样品原子中某一轨道电子的结合能时, 便可将该轨道的电子逐出, 形成空穴, 即时外层电子跃向空穴, 电子轨道层的能量差将以特征X射线荧光逸出原子,CS995型红外碳硫分析仪, 其能量差与原子序数相对应, 以此能谱的峰位和净强度进行定性和定量分析。依据RoHS检测中元素的特点以及大量实际检测经验, 能量色散X射线荧光光谱仪因其激发源采用较大功率的Rh靶来产生特征X射线激发样品原子中K层L层谱线, 可降低背景




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