绍兴EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪-英飞思科学仪器
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
XRF金属镀层测厚仪产品特点
>测试快速,无需样品制备
>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,污染或破坏被测物
>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品
>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀
>SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率
>可切换准直器和滤光片
XRF金属镀层测厚仪应用场景
>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析;
>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等
>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度
绍兴EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪-英飞思科学仪器公司由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司实力不俗,信誉可靠,在江苏 苏州 的分析仪器等行业积累了大批忠诚的客户。英飞思科学带着精益求精的工作态度和不断的完善创新理念和您携手步入辉煌,共创美好未来!