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材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有厚(某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。






原子失去一个电子成为离子时所需要的能量称为一级电离电位。离子中的外层电子也能被激发,其所需的能量即为相应离子的激发电位。处于激发态的原子是十分不稳定的,在极短的时间内便跃迁至基态或其它较低的能级上。 当原子从较高能级跃迁到基态或其它较低的能级的过程中,将释放出多余的能量,这种能量是以一定波长的电磁波的形式辐射出去的。 每一条所发射的谱线的波长,取决于跃迁前后两个能级之差。




RoHS检测方法可以参考IEC62321:2008电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序

首先用XRF光谱仪进行无损筛选,CS995型红外碳硫分析仪,快速,非破坏性,成本低。但干扰因素多,误差较大。

XRF光谱RoHS分析仪以其可进行快速无损筛检的性能,受到多个行业的青睐,其中包括

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