RoHS检测方法可以参考IEC62321：2008电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序

首先用XRF光谱仪进行无损筛选，快速，非破坏性，成本低。但干扰因素多，误差较大。

XRF光谱RoHS分析仪以其可进行快速无损筛检的性能，受到多个行业的青睐，其中包括

儿童用品

玩具、首饰、小饰品、蜡笔、粉笔、塑料、餐盒及背包

服装和服饰：衣服、拉链、纽扣、贴花、莱茵假钻、镶边、袋子和钱夹。

这类标物目前有欧盟研制的用于塑料样品X射线荧光分析的， 代号JSAC0651-55， 圆片状， 规格为4*40 mm;用于塑料样品X射线荧光分析的铅、镉、铬、， 代号JSAC0631-32， 圆片状， 规格为4*40mm;还有我国研制的RoHS检测X射线荧光分析用ABS中的铅、镉、铬、， 代号GBW (E) 081634-081638， 圆片状， 规格为4*40 mm;Ro HS检测X荧光分析用PVC中的铅、镉、铬、， 代号GBW (E) 081121-081125， 圆片状， 规格为4*40 mm。

Compass500能量色散ROHS分析仪在快速无损、 现场ROHS筛选分析方法中， 具有不可取代的地位。 无论是从硬件方面还是软件方面， 特别是近几年， 随着微电子技术、 计算机技术、 核技术和材料科学技术的发展， X射线光谱现场ROHS分析仪在以下几方面将得到进一步的发展。

5 当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时，不必拆分，作为非均质检测单元，直接提交检测。

6 当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3时，不必拆分，CS995型红外碳硫分析仪，可以整体制样（如：0805类贴片类元件 2.0×1.2×0.5mm 的元件不必拆分）作为非均质检测单元，直接提交检测。

7 表面处理层应尽量与本体分离（如涂层）；对于确实无法分离的（如镀层），可对表面处理层进行初筛(如使用 X 射线荧光光谱仪（XRF）等手段)，筛选合格则不拆分；筛选不合格，可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化溶液

学溶解提取)。

8 在满足检测结果有效性的前提下，对于经拆分后样品无法满足检测需求量时，可采取

适类，一同制样，直接提交检测

CS995型红外碳硫分析仪-英飞思科学仪器公司由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”选择苏州英飞思科学仪器有限公司，公司位于：苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室，多年来，英飞思科学坚持为客户提供好的服务，联系人：张经理。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。英飞思科学期待成为您的长期合作伙伴！