温补振荡器测试方法

如果使用方没有特别强调，温补晶振加工，频率温度稳定度指标的验收，一般采用稳态测试。这是因为多数温补晶体振荡器是依靠温度传感器调节振荡回路中变容二极管的电容量来保证其工作在标称频率附近的。为克服温度敏感元件（包括温度传感器和晶体谐振器）固有温度时间常数的不同，晶体振荡器生产厂家普遍采用稳态环境温度测试，并根据温度敏感元件达到温度平衡的测试的温度补偿电压值来生产的。实践证明稳态测试足以满足绝大多数应用场合。

       数字补偿随着补偿技术的发展，很多数字化补偿DTCXO开始出现。D为Digital。利用补偿电路的温度和电压变化，再加A/D变换器，将模拟量转换为数字量，从而实现自动温度补偿。这种方法成本高，电路复杂，适用于高精度的应用。

      用MCU技术进行温度数字补偿为MCXO。MCU对温度传感器的温度值采样后把结果存入单片机。输出补偿数据信号到高精度D/A转换，再将它送给补偿电路得到补偿电压。通过补偿电压对振荡频率进行补偿，来减少温度变化对晶振稳定度的影响。

温补振荡器发展

准确频率源是许多电子设备组成部分，温补晶振现货，频率源性能的优劣直接关系到系统的可靠性。随着便携式电子产品的飞速发展，对频率源的要求也越来越高。普通晶体振荡器是常用的频率源，温补晶振报价，但由于其振荡频率随温度变化呈近似的三次函数关系，它的应用范围受到了限制。为了获得宽温度范围的准确频率源，通常采用电路对其进行温度补偿。 本文设计了一款温度补偿晶体振荡器(TCXO)芯片，温补晶振，该芯片只需外接一颗石英晶振便可构成TCXO，该芯片分为压控晶体振荡器和模拟温度补偿电路两个部分。其中的压控晶体振荡器的压控电容采用MOS可变电容，实现起来成本低。

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