元素分析范围：S16-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷硅检测器SDD，可升级Fast SDD多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C

>标准配置>可选配置纯Au初始化标样交流净化稳压电源戒指样品夹黄金标样

分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）

样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压50KV管电流1mAX射线照射径1/3/5mm防护

检测器硅SIPIN探测器光学图像观察倍率15倍

X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，英飞思，简称：XRF光谱仪）X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪）。

主要使用X射线束激发荧光辐射，次是在1928年由尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪，可以分析从轻元素的钠（z=11）到铀，而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。




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