矿石元素元素分析仪器采用“智能动态跟踪”和“标准曲线的非线性回归”技术，结果数显直读百分含量，自动打印结果；微机控制及数据处理，萤石分析仪，可储存9条曲线，并可进行曲线修正，具有断电数据保护、自诊断功能；调整波长、变更比色皿、改变称样量及合理利用曲线，三元锂电池分析仪，可扩大测量元素的品种及含量范围；机外溶样，操作灵活、简单，无管道、无电磁阀腐蚀、老化问题。



X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X射线荧光是由物质中的组成元素产生的特征辐射。当高能电子束照射样品（靶材）时，入射高能电子被样品中的电子减速，工业铝分析仪，这种带点粒子的负的加速度会产生宽带的连续X射线谱，简称为连续谱和韧致辐射。然后化学元素受到连续X射线谱的照射，内层电子被激发，驱逐一个内层电子形成空穴，原子处于不稳定状态。



分辨率：1.2nm @15kv，2.2nm @1kv（非样品台偏压模式） 放大倍数：10X—1000000X，四川分析仪，连续可调 加速电压：20v-30kv，连续可调 样品台移动范围：X=Y=120mm，Z=50mm 能谱探测器：SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率：MnKa优于127eV 元素分析范围：Be4—Cf98。 [1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像，用于各种微观形貌及成分分析。



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