浅谈低本底

根据仪器单次测量的样品数的不同，分为单路、双路、四路和六路等多路低本底α、β测量仪。单路低本底α、β测量仪由一路主探测器和一路反符合探测器组成；双路低本底α、β测量仪由两路主探测器和一路反符合探测器组成。含四路主探测器的四路低本底α、β测量仪的探测效率相对较高，低本底αβ测量仪批发，但其反符合晶体的体积较大，应用环境有限；而若只用一路反符合探测器，多路低本底αβ测量仪批发，则难以保证被主探测器测到同时又穿过反符合晶体的本底信号被该反符合探测器探测到。

低本底技术指标

（1）探测器：φ75mm×75mm的NAL晶体

（2）总道数：512、1024、2048、4096道任选，实际应用道数：2048道

（3）能量分辨率：＜7.5%（137Cs）

（4）微分非线性：＜0.05%

（5）积分非线性：＜0.1%

（6）直流电源纹波:≤1mVrms

（7）高压电源纹波:≤20mV

（8）系统稳定性:≤1%

（9）数据通过率:>333kcps

（10）脉冲对分辨率：500ns

（11）分析误差:符合GB6566-2010《矿产地质分析测试实验室规范》（EJ/T751-93）的要求

（12）分析范围238U:（37～1×106）Bg226Ra:（37～1×106）Bg232Th:（12～4×105）Bg40K：0.1%～100%

（13）测量不确定度（样品活度＞37Bq）<10%

（14）使用条件温度：+5℃～+35℃湿度：≤90%电源：220V±10%50Hz

（15）铅屏蔽室尺寸及重量：680mm×105mm×235mm900kg37～1×106）Bg232Th:（12～4×105）Bg40K：0.1%～100%

低本底主要参数指标

低本底的系统稳定性：

效率稳定性：仪器通电24h，各路α道探测效率变化≤3％，β道探测效率变化≤5％

本底稳定性：在24h的测量时间内，流气式低本底αβ测量仪批发，本底计数变化在（Nb±3σ）的范围内，四路低本底αβ测量仪批发，其中Nb 为本底计数的平均值，σ为本底计数的标准误差

-铅屏蔽室：厚度≥100mm，可方便拆卸安装

-温度范围：0℃~40℃   湿度范围：<90%（+40℃）

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