集成电路三温测试设备-天一瑞合(推荐商家)
冷热冲击试验机高低温区温度范围:【高温区部分:+80℃至+200℃; 低温区部分:-10℃至-55℃】 温度测试范围:【高 温:+60℃至+150℃;低 温:0℃至-40℃】 控制精度:【+(-)2℃】解析精度:【0.01℃】 高温区升温时间:【自常温至150℃,约60分钟】 低温区降温时间:【自常温至 -40℃,约80分钟】 测试区温度恢复时间:【3-5分钟】
规范要求:冷热冲击试验箱平衡式调温PID+PWM+SSR系统,温度控制稳定,集成电路三温测试设备,精l确。.正压式出风口设计,保证每个角落均有风循环到,温度达到高均匀度要求.高/低温风道系统3s切换完成,高/低温冲击5min内回复.冷冻系统:冷热冲击试验箱模块化制冷系统,集成电路三温测试设备原理,效率l高,集成电路三温测试设备厂家,安装维护方便.冲击温度为-40~-60℃时采用二元式制冷系统.水浸查漏,查漏,潜在泄露问题.制冷系统,电控系统多项安全保护机制.
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