英飞思科学仪器公司-淮安EDX-280D X射线荧光光谱仪





分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)

样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压50KV管电流1mAX射线照射径1/3/5mm防护

检测器硅SIPIN探测器光学图像观察倍率15倍

X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪)X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪)。




设备的测试重复性和稳定性非常关键,X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术,各生产厂家根据不同的标定曲线来对样品进行定量,如果每次测试偏差很大,再号称多的仪器也没有作用,EDX-280D X射线荧光光谱仪,这方面也是考察XRF仪器的一个重要依据。很多销售人员都会说XRF本身存在不稳定性,这是事实,但如果偏差的太远,那也说明技术不过关,测试根本就起不到应有的检测作用。测量稳定性和重复性是衡量设备性能的一个关键指标。




经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的,它采用圆孔进光。根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:棱镜光谱仪,衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪。光学多道分析仪OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器,它集信息采集,处理,存储诸功能于一体。




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