英飞思XRF镀层测厚仪优势

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

使用注意事项编辑 语音测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，微区膜厚仪EDX-8000T Plus，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

XRF金属镀层测厚仪产品特点

>测试快速，无需样品制备

>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物

>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀

>SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率

>可切换准直器和滤光片

XRF金属镀层测厚仪应用场景

>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；

>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

东营微区膜厚仪EDX-8000T Plus-英飞思科学仪器公司由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司为客户提供“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”等业务，公司拥有“英飞思”等品牌，专注于分析仪器等行业。，在苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室的名声不错。欢迎来电垂询，联系人：张经理。