x射线发生装置解决哪些问题？

（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。

（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。

（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。

（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。

（5）纳米材料由于颗粒细小，极易形成团粒，采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。

x射线发生装置检测样品时有哪些要求？

1、送样者在测试X射线衍射之前，请务必事先了解晶体学的基础知识和X射线衍射的基本原理。为什么要用X射线衍射仪以及测试项目（晶型、晶粒尺寸、结晶度、取向度、物相分析等）；

2、送样前，请用简单易记的英文字母（如：A，B，x射线发生装置公司，C…）和数字（如：1，2，3…）对样品进行编号等.

3、粉末样品：须充分研磨，x射线发生装置，需0.2克左右；

4、 片状样品：需有一个大于5?5mm（佳为15?15mm）平整的测试面；

5、块状样品：需有一个大于5?5mm（佳为15?15mm）平整的测试面，如不平整，可用砂纸轻轻磨平，无厚度要求；

6、纤维样品：

a、取向度测试：样品须疏理整齐，少需长约30mm，直径约3mm一束纤维（大约圆珠笔芯大小的一束丝）；

b、常规测试、结晶度、晶粒尺寸：样品须充分剪碎，x射线发生装置价格，呈细粉末状，需0.2克左右(大约一分钱的体积)；

7、 液体样品不能测试；

x射线发生装置结构

主要包括三部分：X射线光管、测角仪和检测器。采用应用广泛的Cu靶作为X射线源，配备PIXcel高能检测器，此检测器为固态探测器由65000个像素组成，每个像素的尺寸为55×55微米，每个像素都有独立电路，具有快速读出时间和较高的动态范围：每像素行每秒超过1300万次计数。此外仪器光路系统配备索拉狭缝、防散射狭缝、面罩、单色器等，以使X射线源发射X射线光以单色光源照射样品，而样品产生的衍射光以平行光束达到检测器。

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