集成电路测试设备-集成电路三温测试设备-天一瑞合仪器设备





冷热冲击试验机高低温区温度范围:【高温区部分:+80℃至+200℃; 低温区部分:-10℃至-55℃】 温度测试范围:【高 温:+60℃至+150℃;低 温:0℃至-40℃】 控制精度:【+(-)2℃】解析精度:【0.01℃】 高温区升温时间:【自常温至150℃,约60分钟】 低温区降温时间:【自常温至 -40℃,约80分钟】 测试区温度恢复时间:【3-5分钟】




温度变化试验分为三类: 1、规定转换时间的快速温度变化试验,转换时间分为:2~3min,20~30s,<10s 。 2、规定温度变化速率的温度变化试验,试验箱的温度升降变化速率(不超过5min内的平均值)应为1± 0.2℃ /min, 3± 0.6℃ /min,定制集成电路三温测试设备, 5± 1℃ /min 。 3、两液槽温度快速变化试验,产生一种急剧的热冲击,适用于玻璃-金属密封及类似的试验样品.低温槽装有标准规定的低温液体,集成电路三温测试设备,若没有规定则液体温度应为0℃,高温槽装有标准规定的高温液体,集成电路测试设备,若没有规定,则液体温度应为100℃。



冷热冲击试验箱箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器以及风机的运作状态决定。经过膨胀阀节流流出的制冷剂进入运作室内蒸发器后,集成电路三温测试设备供应商,吸收运作室内热量并气化,使运作室温度降低;气化后的制冷剂被压缩机吸入并压缩成高温度、高压气体进入冷凝器中被冷凝成液体,再经筛检程式,通过膨胀阀节流后,重新又进入运作室内蒸发器中吸热并气化然后再被压缩机吸入压缩。冷热冲击试验箱如此往复回圈运作,使运作室温度降到设置的温度要求




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