1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要，但不做重视也会引起一些不良后果（如调度问题、CPU Load，堆栈溢出等）

2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，预测性维护公司，验证完整的系统功能。

在产品设计的初期，就会对每个零部件提出设计要求，这些要求可能是从法规或者企业标准中来的，可能是从顾客实际使用来的，工业预测性维护，比如仪表板的表面刚度；也可能是从之前项目的经验教训或者DFMEA/DFSS中得到的。总之，这些要求汇总到一起就形成子系统技术规范或者零件技术规范，这个文件是对零件/子系统的技术要求，是零件开发的指导性文件。

整车试验包括性能试验和路试。性能试验验证车辆碰撞时对假人的保护效果。若碰撞得分过低，此时整车强度改善空间有限，简单的优化方法是调节气囊参数。通过气囊刚度调整来实现假人伤害值的降低。根据整车试验结果，江苏预测性维护，气囊参数进行调整锁定之后，需从新进行DV/PV、子系统的验证。所以一套试验至少要做两轮。越是要求高的主机厂，整车开发周期越长，中间需要大量的验证优化改进。

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