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x射线管主要提供电子从热阴极通过电场，向阳极加速的作用。当电子在几十千伏的高压下迅速提速到高速状态，撞击到阳极体时动能转化释放出X射线。碰撞区域的大小就是X射线源的大小，通过小孔成像原理，我们可以粗略的得知x射线源的大小与清晰度成反比，即x-ray射线源越小，成像越清晰。

     由于IC芯片比较精密主要由微型电子器件或部件构成。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，滨松平板探测器，使电子元件向着微小型化、低功耗和高可靠性方面迈进了一大步。但越精密的电路，检测难度就越复杂。当前芯片检验的常用方法通常是将芯片层层剥开，再用电子显微镜对每一层表面进行拍摄，这样检测方式对芯片具有极大破坏性，此时，X-ray无损检测设备可提供解决方案。

当前的汽车工业中，X射线工业无损探伤为汽车零部件生产过程中提高i效和改善质量做出了巨大贡献，特别是各种类型的铸造件，轮毂和轮胎。其中铸造件的市场在稳步增长，特别是一些关键的安全部件其生产厂商必须保证其产品的质量，而铝铸件的砂眼或其他内部隐蔽缺陷可能会对其用户造成巨大的损失。X射线图像使得许多缺陷及其成因一目了然。使用自动化数字X射线无损检测系统可以实现在线100%的检查，从而实现零i缺陷率。 铸造件的壁厚在不断减薄以减轻其重量，于此同时对铸造件的质量及制造周期的要求却越来越高。 这也是近年来在铸造业中，铸件的射线检验越来越重要的原因。

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