东瑞精密模具(多图)-光谷标准试块厂家
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1:利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2:利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3:利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4:利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5:利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6:利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7:利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
产品改进:无损检测试块还可以用于研究产品的性能和改进。通过在试块上测试不同的材料或工艺参数,可以了解这些变化如何影响产品的性能。这种信息可以用于产品设计和制造的改进,标准试块厂家,从而提高产品的质量和性能
故障诊断:如果产品的检测结果与无损检测试块的已知特性存在显著差异,这可能意味着制造过程中出现了问题。这种差异可以用于故障诊断,帮助找出问题的原因并采取相应的纠正措施。
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