（这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响，甚至造成误判）：a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异；b)被测样品的表面有镀层或经化学处理；c)测量时间；d)样品的形状；e)样品测量的面积；f)的含量多少；XRF光谱测金仪出来的结果通常需要理解，由于被测的首饰产品不同，使用的仪器不同，检测人员的素质水平不同，对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。




光谱仪又称分光仪，广泛为人知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝，散系统，EDX-280D X射线荧光光谱仪，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。中文名光谱仪外文名Spectroscope别    名分光仪类    别科学仪器领    域测绘科学与技术分    类单色仪等




根据研究光谱方法的不同，习惯上把光谱学区分为发射光谱学、吸收光谱学与散射光谱学。这些不同种类的光谱学，从不同方面提供物质微观结构知识及不同的化学分析方法。发射光谱可以区分为三种不同类别的光谱：线状光谱、带状光谱和连续光谱。线状光谱主要产生于原子，带状光谱主要产生于分子，连续光谱则主要产生于白炽的固体或气体放电。现在观测到的原子发射的光谱线已有百万条了。




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