苏州英飞思科学(多图)-日照ESI





(这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响,甚至造成误判):a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异;b)被测样品的表面有镀层或经化学处理;c)测量时间;d)样品的形状;e)样品测量的面积;f)的含量多少;XRF光谱测金仪出来的结果通常需要理解,由于被测的首饰产品不同,使用的仪器不同,检测人员的素质水平不同,对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。




软件的算法。由于X荧光光谱仪的主要干扰是基体效应和元素间下吸收增应,为了降低或者消除这种干扰。软件的算法(包括谱处理技术,强度拟合方法,FP基本参数法,阿尔法理论系数法,ESI,经验系数法等)就显得尤为重要。光谱仪的售后和技术支持效率及服务。XRF(X-Ray Fluorescence-X射线荧光) 光谱仪是一种原子发射光谱仪。 在 XRF光谱仪 中,来自 X 射线光管主 X 射线光束的辐照会使荧光 X 射线的辐射呈现出样品中所存在元素的分散能量特征。




当具有高能量的入射(一次)X射线与原子发生碰撞时,会打破(待测样品的)原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层(如:K层)的电子更容易被激发而从原子中逐放出来,电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位,这时处于高能量电子壳层的电子(如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不用电子壳层之间存在着能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来.




苏州英飞思科学(多图)-日照ESI由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。行路致远,砥砺前行。苏州英飞思科学仪器有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴,更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业,与您一起飞跃,共同成功!
苏州英飞思科学仪器有限公司
姓名: 张经理 先生
手机: 18962189136
业务 QQ: 2101595832
公司地址: 苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室
电话: 0512-68635865
传真: 0512-68635865