材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。

由于原子的能级很多，原子在被激发后，其外层电子可有不同的跃迁，但这些跃迁应遵循一定的规则(即“光谱选律”)，因此对特定元素的原子可产生一系列不同波长的特征光谱线，这些谱线按一定的顺序排列，ESI-900型X荧光光谱分析仪怎么样，并保持一定的强度比例。光谱分析就是从识别这些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关，因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。

便携式RoHS分析仪Compass-500能量色散荧光光谱EDXRF ROHS Analyzer?

欧盟成员国目前执行的RoHS指令和ELV指令，对电子/电器中铅、镉、、六价铬和某些化聚合物的浓度有严格的限制。

便携式X射线荧光光ROHS分析仪Compass500谱提供了一种快速、无损的方法来筛选这些受限元素。

XRF光谱ROHS分析测试仪Compass500的应用领域包括

RoHS及ELV指令应对

原材料

集成芯片

电路板

电源线

塑料

金属

焊料

多层膜厚分析

夹杂物和失效分析

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