驱动光耦可以使用指针万用表的电阻挡，一般选取X10Ω挡就可以，可以使用此挡点亮光耦内部的发光二极管，如果光耦输出端无须接电源，则可直接使用数字万用表二极管挡测试输出响应，如果光耦输出需要带电源，则测试时还需给光耦通电。有些电路板开关电源给电后，光耦就会得电，要测试光耦直接给前级驱动电流，万用表再测试响应电压就可以。

光耦坏了对电路的影响

在开关电源中，光耦是反馈输出电压的情况给前级控制电路的。如果光耦损坏，可能导致输出电压异常，还有可能会使电路进入过压，或过流保护状态，而无电压输出。 开关电源是利用现代电力电子技术，控制开关管开通和关断的时间比率，维持稳定输出电压的一种电源，开关电源供应，开关电源一般由脉冲宽度调制（PWM）控制IC和MOSFET构成。

开关电源中的光耦损坏，导致电源电路不能稳压，严重的能导电源不工作。

一． 耐电压 （HI.POT，ELECTRIC STRENGTH ，DIELECTRIC VOLTAGE WITHSTAND）KV 1.1 定义:于的端子间，例如:I/P-O/P，开关电源厂家，I/P-FG，开关电源厂商，O/P-FG间，可耐交流之有效值，浙江开关电源，漏电流一般可容许10毫安，时间1分钟。1.2 测试条件：Ta：25℃；RH：室内湿度。开关电源1.3 测试回路：1.4 说明：1．4．1 耐压测试主要为防止电气破坏，经由输入串入之高压，影响使用者安全。




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