测井200度存储器
存储器测试的目的是确认在存储设备中的每一个存储位置都在工作。换一句话说，如果你把数50存储在一个具体的地址，175度EEPROM型号，你希望可以找到存储在那里的那个数，直到另一个数写入。任何存储器测试的基本方法是，往存储器写入一些数据，然后根据内存设备的地址，校验读回的数据。如果所有读回的数据和那些写入的数据是一样的，那么就可以说存储设备通过了测试。只有通过认真选择的一组数据你才可以确信通过的结果是有意义的。
当然，像刚才描述的有储器的测试不可避免地具有破坏性。在内存测试过程中，你必须覆盖它原先的内容。因为重写非易失性存储器内容通常来说是不可行的，这一部分描述的测试通常只适用于RAM 的测试。
测井175度存储器
尽管我们几乎可以使用任何类型的存储器来满足嵌入式系统的要求，经销200度EEPROM型号，但终端应用和总成本要求通常是影响我们做出决策的主要因素。有时，150度EEPROM型号，把几个类型的存储器结合起来使用能更好地满足应用系统的要求。例如，EEPROM，一些PDA设计同时使用易失性存储器和非易失性存储器作为程序存储器和数据存储器。把程序保存在非易失性ROM中，而把由用户下好的程序和数据存储在有电池支持的易失性DRAM中。不管选择哪种存储器类型，在确定将被用于应用系统的存储器之前，设计工程师必须仔细折中考虑各种设计因素。
200度存储器询价
程序存储器
如果微控制器既利用内部存储器也利用外部存储器，则内部存储器通常被用来存储不常改变的代码，而外部存储器用于存储更新比较频繁的代码和数据。设计工程师也需要考虑存储器是否将被在线重新编程或用新的可编程器件替代。对于需要重编程功能的应用，人们通常选用带有内部闪存的微控制器，但带有内部OTP或ROM和外部闪存或EEPROM的微控制器也满足这个要求。为降低成本，外部闪存可用来存储代码和数据，但在存储数据时必须小心避免意外修改代码。
在大多数嵌入式系统中，人们利用闪存存储程序以便在线升级固件。代码稳定的较老的应用系统仍可以使用ROM和OTP存储器，但由于闪存的通用性，越来越多的应用系统正转向闪存。
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