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分辨率:1.2nm @15kv,2.2nm @1kv(非样品台偏压模式) 放大倍数:10X—1000000X,连续可调 加速电压:20v-30kv,连续可调 样品台移动范围:X=Y=120mm,Z=50mm 能谱探测器:SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率:MnKa优于127eV 元素分析范围:Be4—Cf98。 [1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像,用于各种微观形貌及成分分析。
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检测铬与其他金属的能力方面有著非常的表现。本机可使用光元素分析程式来分析磷、硫、氯、钾、钙等金属成份。·使用了的和多用途的x射线资料模式:采用康普顿常态化校正方法:可以利用“内部标准”来进行定量分析,而不需要进行专门的校正。基本参数:采用半定量分析方式,适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。实验校正法:利用“校正曲线”进行校正,允许使用用户产生的校正曲线。
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