苏州英飞思-唐山膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪





⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。



测厚仪

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。







膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn,膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪, Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度







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