设备的测试重复性和稳定性非常关键，X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术，各生产厂家根据不同的标定曲线来对样品进行定量，如果每次测试偏差很大，再号称多的仪器也没有作用，这方面也是考察XRF仪器的一个重要依据。很多销售人员都会说XRF本身存在不稳定性，这是事实，但如果偏差的太远，那也说明技术不过关，测试根本就起不到应有的检测作用。测量稳定性和重复性是衡量设备性能的一个关键指标。




X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。3、当某些元素的电子由高等级向低等级跃迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素的含量较高或者能量较高，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰，EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪，此峰即为逃逸峰。5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动补偿。




测试方法编辑 播报光谱测金机的测试方法及要求：1.仪器的校核根据仪器的具体要求进行校核。2. 测试条件3 .实验室的环境条件要求应满足相应仪器要求。4.仪器达到稳定状况方可进行测量。5.测试方法6.选取测试点不得少于三点。7. 测量值取各测量结果的平均值。测量进度高：测量误差是±0.1%提供谱线重叠比较工具，便于用户查明未知元素谱峰提供密度法复核软件，可对本机测定结果进行复核。




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