XRF矿石分析仪产品特点

1.小型化、、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析

2.可同时分析40种元素

3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术

4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率

5.超高记数数字多道电路设计，济宁分析仪，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统

6.标配基本参数法软件，多任务，重晶石分析仪，多窗口操作

7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限

X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行快速地定性和定量分析技术， 又称为现场X射线荧光矿石分析仪。 根据现场分析的应用场景与采样方法， X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。 现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面， 在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法; 现场取样分析是指对待测目标体进行样品采集



国内仪器主要适用经验系数法结合基本参数法和单独经验系数法，针对不同的矿石种类，利用基本参数法结合经验系数法测试矿石成分中的元素含量，主要生产手持式矿石分析仪，在矿石分析方面主要结合基本参数法和经验系数法来制作针对不同矿石种类的各种工作模式，选择适当的工作模式可以得到相当高的精度。岩石是固态矿物和矿物的混合物，通常由像钙、镁、钠、铝、钡、铁、锌等多种元素组成。大部分矿石通过仪器测试可以有效成分。有部分矿石因需要提取的矿物量较低，通过简单的测试无法判定含量的多少，这就需要高精度的分析手段。



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