CS995型红外碳硫分析仪-英飞思科学仪器公司





电子电气产品中有害物质检测RoHS2.0样品拆分通用要求

General Disassembly Requirements for Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products

在电子电气产品有害物质的检测中 ,样品拆分过程对于检测结果具有直接的影响。本标准参考欧盟关于均质材料的定义对样品进行拆分,将样品拆分成终提交检测的单元,然后再进行检测。对于用机械手段难以拆分的非均质材料,按照一定的条件,如质量、体积等符合本标准规定的,可以直接提交检测,不需进一步拆分。本标准用举例和图示的方法对拆分的原则进行说明






实验室监测方法

       监测方法         来源         类别

原子吸收法GB7475-87水质

mcso-四(对磺基苯)卟啉光度法WS/T126-1999作业场所空气

氢化物发生-原子吸收法WS/T127-1999作业场所空气

原子吸收法GB/T15555.2-95固体废物浸出液

石墨炉原子吸收法GB/T17141-1997土壤

火焰原子吸收法GB/T17140-1997土壤

火焰原子吸收法GB/T15264-94空气质量

原子吸收法CJ/T101-99城市生活垃圾

原子吸收法《固体废弃物试验分析评价手册》中国环境监测总站等译固体废弃物






材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,CS995型红外碳硫分析仪,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有厚(某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。






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