集成电路三温测试设备原理-集成电路三温测试设备-天一瑞合





规范要求:冷热冲击试验箱平衡式调温PID+PWM+SSR系统,集成电路三温测试设备原理,温度控制稳定,集成电路三温测试设备,精l确。.正压式出风口设计,保证每个角落均有风循环到,温度达到高均匀度要求.高/低温风道系统3s切换完成,集成电路三温测试设备供应商,高/低温冲击5min内回复.冷冻系统:冷热冲击试验箱模块化制冷系统,效率l高,安装维护方便.冲击温度为-40~-60℃时采用二元式制冷系统.水浸查漏,查漏,潜在泄露问题.制冷系统,电控系统多项安全保护机制.




冷热冲击试验箱的膜物质与符合标准

冷热冲击试验箱采用韩国进口“TEMI8226”双回路高l精度-液晶显示-触摸按键温度控制器,可编程微电脑PID控制SSR输出运行,超大液晶彩色触摸屏幕画面,荧幕操作简单,程式编辑容易,温湿度控制采用P?I?D + S?S?R系统同频道协调控制,并具有自动除霜装置(能使试验时产生的水蒸气不会聚集在制冷蒸发器上,产生冰堵现象).



冷热冲击试验机

冷热冲击试验机是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备, 用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,集成电路三温测试设备多少钱,得以在较短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分为两厢式和三厢式,区别在于试验方式和内部结构不同,产品符合标准为:GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。





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